Москва Тверь Томск РИА Наука Открытия - РИА Наука Навигатор абитуриента Москва Тверь Томск
/ ria.ru

Ученые повысили точность изображения сканирующих микроскопов

МОСКВА, 30 апр - РИА Новости. Исследователи Томского политехнического университета (ТПУ) и Тверского государственного технического университета (ТГТУ) нашли способ повысить до 10 раз точность микроскопов с нанометровым разрешением, предложив метод компенсации колебаний иглы микроскопа, которые оказывали негативное влияние на качество изображения.

Результаты опубликованы в журнале Applied Surface Science Volume. Как сообщили сотрудники ТПУ, метод сканирующей зондовой микроскопии с нанометровым разрешением основан на получении отклика зонда на взаимодействия иглы с поверхностью.

Есть множество причин недостаточной точности метода, одна из них вызвана нестабильностью кантилевера, на конце которого находится игла.

Читать на ria.ru
Сайт imag.one - агрегатор новостей из открытых источников. Источник указан в начале и в конце анонса. Вы можете пожаловаться на новость, если находите её недостоверной.

Сейчас читают

DMCA